Научная электронная библиотека

Монографии, изданные в издательстве Российской Академии Естествознания

Модели диагностики надежности и безопасности СВТ и АСУ объектов техносферы

Белозеров В. В., Любавский А. Ю., Олейников С. Н.,

Список литературы

1. ГОСТ 21623-76. Система технического обслуживания и ремонта техники. Показатели для оценки ремонтопригодности. М. Издательство стандартов 1976.

2. ГОСТ 27.002-89. Надёжность техники. М, Издательство стандартов, 1989.5.ГОСТ 15467-79 основные понятия. Термины и определения М. Издательство стандартов. 1979.

3. ГОСТ 18322-78. Система технического обслуживания и ремонта техники, М. Издательство стандартов. 1978.

4. ГОСТ 16504-81. Испытания и контроль качества продукции М. Издательство стандартов. 1981.

5. ГОСТ 27.002-89. Надежность в технике. Основные понятия. Термины и определения. -М.: Изд-во стандартов, 1990. – 38с.

6. ГОСТ 24.701-86 Единая система стандартов автоматизированных систем управления. Надежность автоматизированных систем управления. Основные положения. – М.: Изд-во стандартов, 1990. – 64 с.

7. Антонов А.В. Об определении индивидуального ресурса изделий атомных станций. – НКК, 1996, № 10, с.42-49.

8. Антонов А.В., Острейковский В.А. Оценивание характеристик надежности элементов и систем ЯЭУ комбинированными методами. – М.: Энергоатомиздат, 1993. – 368с.

9. Аронов И.З., Бурдасов Е.И. Оценка надежности по результатам сокращенных испытаний. – М.: Изд-во стандартов, 1987. – 184с.

10. Капур К., Ламберсон Л. Надежность и проектирование систем. – М.: Мир, 1980. – 606с.

11. В. М. Журавлев Методы расчета надежности систем автоматики. Учебно-методическое пособие. Г. Фрунзе 1984г.

12. Комаревич Л.В. Введение в теорию надежности сложных технических систем: учеб. пособие / Л.В. Комаревич. – Омск: Изд-во ОмГТУ, 1995. – 80 с. Бегун В.В., Горбунов О.В., Каденко И.Н. и др. Вероятностный анализ безопасности атомных станций (ВАБ)- Киев: НТУУ ”КПИ, 2000. – 568 с.

13. Рябинин И.А. Надежность и безопасность структурно сложных систем. – СПб.: Изд-во «Политехника», 2000.– 248 c.

14. Стрельников В.П., Федухин А.В. Оценка и прогнозирование надежности электронных элементов и систем. – К.: Логос, 2002. – 486 с.

15. ГОСТ 27.005-97. Надежность в технике. Основные положения. Модели отказов; Введ. 05.12.97. – К.: Межгосударственный совет по стандартизации, метрологи и сертификации. – 45 с.

16. Погребинский С.П., Стрельников В.П. Проектирование и надежность многопроцессорных ЭВМ. – М.: Радио и связь, 1988. – 168 с.

17. Иванов Н.Н. Вероятностная модель диффузионного распределения для оценки надежности радиоэлектронных приборов – Информационно-управляющие системы: научный журнал – 2014 – № 4. С. 66-69.

18. Бутузов С.Ю. Любавский А.Ю. Оценка времени наработки на отказ накопителей информации автоматизированных систем пожаровзрывобезопасности – Интернет-журнал «Технологии техносферной безопасности», № 6 (40), 2011 – URL: http://ipb.mos.ru/ttb/ (дата обращения: 27.09.15).

19. Бутузов С.Ю., Баскаков С.В., Любавский А.Ю. Статистический анализ времени наработки на отказ накопителей информации автоматизированных систем управления – Вестник Воронежского государственного технического университета. Т.9 – Воронеж: ВГТУ, 2013.

20. Любавский А.Ю. О применении методов эконометрики для комплексной оценки надежности вычислительных систем – Интернет-журнал «Технологии техносферной безопасности», № 1 (59), 2015 – URL: http://ipb.mos.ru/ttb/ (дата обращения: 27.09.15).

21. Abernethy, Dr. Robert., The New Weibull handbook, Second Edition, авторское издание, 1996, глава 5.

22. Abernethy, Dr. Robert., The New Weibull handbook, Second Edition, авторское издание, 1996.

23. Avertin F. et al. Reliability of IGT-Modules for Traction Applications. – Power Electronics Europe, 2001, № 7, pp.15-19.

24. Engineering, 2000, № 12(3), pp.365-370.

25. Huei-Yaw Ke. A ayesian/Classical Approach to Reliability Demonstration. – Quality.

26. Januszewski St. et al. Semiconductor Device Failures in Power Converter Service Conditions. – EPE Journal, 1998, № 3-4, pp.12-17.

27. Lai C.D., Min Xie, Murthy D.N.P. A modified Weibull distribution. – IEEE Transactions on reliability, 2003, № 1, pp.33-37.

28. Nelson, Wayne, Applied Life Data Analysis, John Wiley & Sons, 1982.